紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線(xiàn)型設(shè)計(jì)，探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。

　　紫外輻照計(jì)的操作說(shuō)明：

　　1、紫外線(xiàn)源(太陽(yáng)，紫外燈等)的輻射強(qiáng)度測(cè)量測(cè)量紫外線(xiàn)源的紫外強(qiáng)度時(shí)，探測(cè)器方向正對(duì)紫外線(xiàn)源，按下"POWER"鍵，開(kāi)啟儀器，選擇適合的測(cè)試量程即可。右圖測(cè)試太陽(yáng)光到達(dá)地面的紫外線(xiàn)輻射強(qiáng)度，測(cè)量值為712uW/cm2。

　　2、太陽(yáng)隔熱膜、隔熱玻璃等對(duì)紫外線(xiàn)的阻隔性能測(cè)試太陽(yáng)膜或隔熱玻璃等的紫外線(xiàn)阻隔性能測(cè)試時(shí)，應(yīng)分兩步測(cè)量:

　　第一步:測(cè)量紫外源的輻射強(qiáng)度:

　　紫外源可選太陽(yáng)光或紫外燈等。首先測(cè)量紫外源的紫外線(xiàn)的輻

　　射能功率密度UV1W。(如圖1的第一步)

　　第二步:測(cè)量被太陽(yáng)膜阻隔后的紫外源的輻射強(qiáng)度:

　　保持紫外源與儀器間距離不變，在儀器與紫外源之間插入待測(cè)太陽(yáng)膜或隔熱玻璃，被測(cè)物需緊貼儀器的測(cè)量端面，以免受外界光的影響。記下有太陽(yáng)膜時(shí)紫外線(xiàn)的輻射能功率密度UV2W。